stm32的RAM自检,在读写RAM中的数据时,程序总是进入HardFault,检查没有溢出。

2019-07-21 01:28发布

最近项目增加单片机的RAM ROM自检功能。在坐第一个RAM自检的功能时就遇到问题。stm32的RAM起始地址,和空间大小如下图所示
截图未命名.jpg 因此在编写Test_RAM时,按照先将RAM空间中的写满0x00,在读回空间中的数据和0x00做对比,判断读回的数据是否都是0x00。如果都是0X00在向空间中写入0XFF,同样再读回RAM空间中的数据,和0XFF做对比,判断读回的数据是否都是0XFF,如果两次对比都没有问题,则认为RAM是OK的。现在编写如下伪代码: 截图未命名.jpg ,程序在读写数据时,特别容易进入HardFault,硬件错误中断函数,不知道为什么?是溢出了?不应该溢出,求大神指点。


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13条回答
zhangxiaolin
2019-07-21 20:06
本帖最后由 zhangxiaolin 于 2019-5-14 15:11 编辑
zc123 发表于 2019-5-14 14:19
把改过的代码截图看下,理论没什么其他问题

先写入0X00,读出0X00的代码截图如下: 截图未命名2.jpg 这这部分代码只测试向RAM指定区域写入0X00,然后读出数据。不执行读写0XFF,在debug模式下非常容易进入HardFault,直接download到主板,显示测试OK。debug模式下,Memory中的数据如下: 截图未命名1.jpg 从RAM测试区域的起始地址:0x20000800    到   结束地址:0x2000FFFF中的数据全是0x00,即整个待测RAM区域数据写入读取OK。同样的方法流程:添加向RAM中写入0XFF,然后读取0XFF的测试代码,代码截图如下: 截图未命3.jpg ,测试不过,终端打印显示error1,同样是DOWNLOAD至主板,程序没有崩溃,测试结果均有打印输出。但是如果进入debug模式后,容易进入hardfault。在debug模式下的memory截图如下: 截图未命名5.jpg ,说明向待测区域写入0XFF是不成功的,再读取的时候不符合条件肯定报错。为什么会有这些数据写入,写入的数据明明是0xFF.求大神指点。

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