A1检测TPAD按键是 每次检测时为推挽输出  将电容充满后再采用浮空 然后我们PA1是AD采样 就这里我有几个疑问

1 我们的原理图上是直接采样TPAD端 由于有个上拉电阻 电导通速度又相当于光速 何况单片机AD转换本身的速度并不是很快  AD采样的速度根就不会采用到有0的情况 也就是电压由低到高这个过程 AD根本就不会采样到 所以第一次采样10次的效果其实全为 VCC 所以上述操作是不是多余？
2如果当案件按下 AD值有所变化， 那我们 为何 不进行直接AD采样 反而要开定时器5 直接判断 按键有无按下不行么？

求指导 想了很久了 没想明白 为什么绕一大圈 ？？