介绍几种存储器测试算法，并讨论这几种算法的用途。
       数据测试
       下面是数据测试的伪代码
for(memory range under test)
fill the memory with a value;
for(memory range under test)
read back the memory and compare the
readback value to the written value
通常，这个测试会被执行几次，每次填充的值不一样。常用的填充值包括
0x55555555,
0xAAAAAAAA, 0x33333333, 0xCCCCCCCC,
0x0F0F0F0F , 0xF0F0F0F0, 0x00FF00FF ,
0xFF00FF00FF00, 0xFFFFFFFF , 0。
  这个测试可以用来检测数据比特粘连(bit -stuck)问题，例如，如果，
written value = 0, readback value = 0x8,
   表示bit 3 粘连到1.
       如果
written value = 0xFFFFFFFF , readback value= 0xFFFFFFFE,
   表示bit 0 粘连到0.
       如果能正确的写入并读出0x55555555（或0xAAAAAAAA），说明相邻的两个比特没有粘连；如果能正确写入并读出0x33333333（或xCCCCCCCC），说明相邻的4 个比特没有粘连；如果能正确写入并读出0x0F0F0F0F（或0xF0F0F0F0），说明相邻的8 个比特没有粘连…
       这个算法既可以用来测试数据总线连接，也可以用于测试存储器单元。当用于测试存储器单元时则每一个存储单元都需要写读所有的值，这将是比较耗时的测试；而用于测试数据总线连接时，只需要把所有的值都写读一遍就可以了（地址不限）。