{var%20f='http://v.t.sina.com.cn/share/share.php?appkey=1515056452',u=z||d.location,p=['&url=',e(u),'&title=',e(t||d.title),'&source=',e(r),'&sourceUrl=',e(l),'&content=',c||'gb2312','&pic=',e(p||'')].join('');function%20a(){if(!window.open([f,p].join(''),'mb',['toolbar=0,status=0,resizable=1,width=440,height=430,left=',(s.width-440)/2,',top=',(s.height-430)/2].join('')))u.href=[f,p].join('');};if(/Firefox/.test(navigator.userAgent))setTimeout(a,0);else%20a();})(screen,document,encodeURIComponent,'','','https://www.xiaopingtou.cn/data/attach/logo/logo.png', '推荐 songchenping 的问题《【电路设计】+ 双口RAM芯片测试模块（MSP430F122+MAX491）》','https://www.xiaopingtou.net/q-140746.html','页面编码gb2312|utf-8默认gb2312'));){kind=link}
针对目标板上的双口RAM芯片的右端口进行读写测试，来检测右端口和内部存储地址的正确性。
原理图1：
RS422接口：
MCU:
LDO:
DB9接口：
PCB LAYOUT:
PCB 3D view：
原理图1：
RS422接口：
MCU:
LDO:
DB9接口：
PCB LAYOUT:
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