基于MCU+CPLD的新型光栅数显系统研发介绍

2019-11-28 14:20发布

1 引言

光栅数显系统主要用于普通机床,可直接显示机床加丁的长度值,有助于提高加工精度和效率。目前国内市场上的光栅数显系统大多采用国外集成电路实现,研发成本高,且不便于操作人员使用。针对这种状况,研发了基于MCU+CPLD的新型光栅数显系统。该系统具有计数精度高、成本低、操作方便以及升级快等特点,能够处理高达5 MHz/s的正交脉冲,并在掉电时有效存储当前长度值,其数码管可显示关键的长度值,点阵式液晶屏还可显示相关的提示信息。

4条回答
dingL
2019-11-28 21:57
3 正交脉冲信号采集处理

3.1 正交脉冲采集

光栅尺输出一组正交脉冲信号,即相位差为90°的两路方波,如图2所示。当光栅尺正向移动一个栅距时,光栅尺输出一个00—01一11—10—00循环,A路方波相位超前于B路90°;当光栅尺反向移动一个栅距时,光栅传感器输出一个00—10一11一01一00循环,A路方波相位滞后B路90°。


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分析A,B两路方波的逻辑状态发现A,B两路方波在任意时刻下只有一路信号发生逻辑状态变化。如果在逻辑状态变化前A,B两路的状态相同,那么变化后的逻辑状态肯定相异;如果变化前A,B两路方波逻辑状态相异,那么变化后逻辑状态肯定相同。只需对这两路信号异或,就能提取光栅尺运动的方向信号updown以及与运动距离成正比的计数脉冲cp。 function ImgZoom(Id)//重新设置图片大小 防止撑破表格 { var w = $(Id).width; var m = 650; if(w

由图2看出,光栅尺移动一个栅距将输出4个cp脉冲,系统测量的最小分辨率提高至1/4栅距,通常称为四裂相或四倍频。CPLD在每个clk的上升沿检测A,B两路方波的状态,首先分别对当前检测的状态A0,B0和上次检测的状态A1,B1相异或,然后将两次异或值再异或。如果最后异或值为1,则说明A,B两路方波发生变化,则向可逆计数器输入一个高电平宽度为1个clk周期的计数脉冲cp,实现逻辑如图3所示。

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3.2 可逆计数器

将提取的方向信号updown和计数脉冲cp输入至可逆计数器,实现对光栅尺输出的正交脉冲计数。可逆计数器模块的VHDL程序如下:

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3.3 clk的取值

由于CPLD的采样时钟clk必须大于8倍光栅尺输出的正交脉冲,因此系统不会丢失信号。该系统设计使用40 MHz有源晶体振荡器作为CPLD的采样时钟源,可记录的最大光栅传感器输出信号频率为5 MHz。如果使用50线/mm的光栅尺,经过CPLD的四裂相细分后,计算该光栅尺接该系统的最大不漏数加工速度为20 μmx5 MHz="100" m/s,最小分辨率为5μm。远远超出机床运行的极限速度,完全满足实际需求。

3.4 EPM240简介

选用Altera公司的EPM240作为CPLD,EPM240是MAX Ⅱ系列器件中的一员。MAX Ⅱ CPLD系列的体系结构使其在所有CPLD系列器件的单位I/O引脚的功耗和成本最低;支持高达300 MHz的内部时钟频率,面向通用低密度逻辑应用,MAX Ⅱ CPLD可替代高功耗和高成本 ASSP 以及标准逻辑CPLD。

EPM240含有240个逻辑单元(LE),等效于192个宏单元;8 192 bit的用户Flash存储器,可满足用户小容量信息存储要求:最大用户I/O数为80,最快速度为4.5 ns,完全满足系统设计要求。 function ImgZoom(Id)//重新设置图片大小 防止撑破表格 { var w = $(Id).width; var m = 650; if(w


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