这是一篇 STM32F4 处理器使用 Keil MDK 中的逻辑分析仪参与硬件调试的实验教程，节选自 ARM Keil Application Note 230 的前半部分。
这个功能其实一直就有，但感觉能搜到的资料比较少（倒是做软件仿真的资料比较多），所以在这里分享一下。

原文前半部分还包括断点、观察点等常规调试实验，完整翻译在[这个链接里]缓慢更新，排版可能比这个帖子好一点。
原文废话特多，我翻译着都觉得累。

原文使用的是 STM32F4-Discovery 开发板，我这里都改用 NUCLEO-F401RE 实现了。Discovery 板卡在新版本的 Pack Installer 中已没有 Blinky 例程支持，可以用 CMSIS-RTOS Blinky 来做，变量定义的位置等会有变化。
这篇教程针对 MDK 5.10 及更新版本。MDK 4 有另一篇教程对应。

教程使用C:MDK做为例程目录，并以默认 MDK 安装路径为例：C:Keil_v5。
这个实验可以用评估版本（MDK-Lite）来完成，不需要购买授权。
不需要额外的调试器，只需准备 NUCLEO-F401RE 开发板、USB 线，以及在电脑上安装 MDK 5.10+ 就可以了。

6) μVision Software Pack 的下载和安装步骤

1) 启动 μVision 并打开 Pack Installer

1. 将电脑连接到外网上，下载 Software Pack 需要外网连接。

2. 点击桌面上的图标启动 μVision。

3. 点击工具栏上的按钮 LAWaveform.png (15.49 KB, 下载次数: 0) 下载附件 2015-12-18 15:47 上传