2019-12-27 18:41发布
takashiki 发表于 2017-7-11 18:55 我只想说，LZ自己不看ULN2003的Datasheet的？比你在这里问要好得多。在这里你得到了答案，但你怎么保证你得 ...
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理论是这样子的，当是失效分析时候，就要首先保证任何外设损坏都不能导致MCU损坏，与外设相连的IO就要能抗住任何情况下的失效电压打过来。
保证上面的后，又需要保证MCU出现任何情况下的失效都要保证人身、财产安全。
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