STM32L051使用了PA1-PA3还有PB0、PB1 5个端口来做ADC输入，ADC采用DMA循坏方式不停的扫描。遇到的问题是：
1、PA3口本来输入1.99V电压信号，（VREF=3.319V）ADC得到的值是2046左右（推算电压值：1.657V左右）；
2、用示波器一测发现输入电压有被周期性被拉低，拉低的周期和采样次数大约1:2的关系；
3、非常奇怪，而且其他端口没有这种干扰（拉低）；
4、调试中不启动ADC，则干扰消失；
5、尝试在PA3端口对地接104电容后，示波器测试干扰消失，ADC值也恢复正常。
问题是如果是ADC引起应该干扰和采样周期同频率？另外AD其他输入端口也应该一样被干扰呀？
有没有人有这问题的答案呀？
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准确的说，没有找的根本原因。我怀疑是ADC取样时内部消耗引起，现在在输入端并电容可以得到改善。
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