STM32F429外扩SDRAM读写测试数值不正确

2019-07-14 17:53发布

正做一工控项目,用的STM32F429,外接IS42S16400作为显存,显示部分工作正常,照理说SDRAM应该就没有问题了,可当定义一个长度为1000的uint16_t类型数组到SDRAM中进行读写测试的时候,依次往数组中写入0~1000,发现每隔16个数,就会发生错误。即0~16读出来都是正确的,17到31的值则为273~287,也就是比原来大了256,而32~48又是正确的,依此类推。这什么情况?有人遇到过没?
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