如何选择LTE系统测试方法,存在哪些挑战?

2019-07-17 17:55发布

TD-LTE、FDD-LTE和LTE-Advanced(LTE-A)无线技术使用了几种不同的多种输入多路输出(MIMO)技术。鉴于MIMO系统的复杂性正在日益提高,因此相关的测试方法也将更具挑战性。那么,如何选择LTE系统测试方法,存在哪些挑战?
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4条回答
fysydfdsfw
2019-07-18 01:16
通过形成一个指向具体用户设备(UE)的波束,这两组四天线组件可以增强信噪比。两个正交极化的波束能够有效地模仿出两个存在较低关联天线,即使实际的空间关联较高也没问题。因此,这种天线配置能够扩大覆盖范围,使更广泛的高数据速率传输成为可能。

除TD-LTE外,八天线技术还可用于FDD-LTE。网络运营商可以利用该天线配置来增强上行链路的接收效果,解决低功率用户设备链路预算限制的问题。3GPP的RAN1工作组正在积极讨论八天线技术在LTE-A的实用化部署。

在传统的性能测试中,天线模式,即一个天线阵列在每个方向上的信号增益,通常都会被忽视。这部分是因为,在传统的单路输入单路输出(SISO)系统进行的测试中,人们往往会假设天线都是全向的。但对于多数基站来说,事实并非如此。信号强度的方向性在MIMO空间信道中发挥着重要的作用,而在波束赋型应用中的作用则更为关键。因此,在测试八天线系统时,认真考虑天线的模式将是至关重要的。

为了发挥八天线阵列的全部优势,LTE和LTE-A系统会使用双层波束赋型,以及干扰抑制和合并(IRC)等接收机技术。使用IRC技术时,eNodeB基础接收机站(BTS)使用从多种用户设备收集到信息(通常是各噪音源之间的交叉共变),从而以智能化的方式对噪音加以抑制。这类方案会增加MIMO信道仿真的复杂性。此外,它们还会带来如下的测试挑战:

信道的数量:要想对一个波束赋型系统进行测试,就必须建立起MIMO信道。在TD-LTE中,上行和下行链路在特性上是相同的。在FD-LTE中,信道的关联程度可能较高或较低–这要依频率间隔或所观察到的(Rayleigh衰减、阴影衰减等)衰减水平等因素的而定。在实验室中为测试用途而创建的任何RF信道必须将这些细节考虑在内。

对于八天线系统来说,此类测试很明显将涉及大量的RF信道。例如,一个8x2双向MIMO信道就需要16个RF信道。在许多实验室中,空间RF都是一个重要的因素。因此,提供这一能力可以大幅度增强能力,同时又不会导致测试平台的规模出现不成比例的异常增长。

此外,要想实现信道互易性,就要求对8x2双向MIMO测试系统进行相位校准,只有校准后才能对系统的波束赋型能力进行测试。有效的相位调整和信道校准都是实现可靠和高效测试的关键因素。信道数量的这种增加还要求更RF硬件更密集地集成到系统中。如果不能有效集成,在有大量外侧分离器、合并器和循环器等设备的条件下,精确和可靠地实现RF信道几乎会成为一项不可能完成的任务。

先进的信道建模:由于八天线LTE系统使用了先进的天线技术,测试中所用的建模信道必须重现这些技术中所用信道的实际物理特性。如果在仿真结果中不能将所有的细节都囊括在内,则有可能建立不正确的基准,从而无法对真正的系统性能进行评价。例如,极化会影响用户设备接收到的信号功率。与无极化的案例相比,接收到的信号功率明显较低。这种由于极化直接造成的损失取决于用户设备与eNodeB天线阵列之间的相对方向。

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