产生这些OOT(校准超差)的原因，一个是电子校准件内部标准发生了变化，另一个是不正确的处理方式导致连接器受到损坏。

· 内部标准：电子校准件阻抗标准件的特征受老化率、漂移等因素的影响会发生变化。为了达到电子校准件的性能技术指标，必须定期更新电子校准件内置存储器中保存的阻抗标准件S参数数据。
· 连接方式：有缺陷或受到损坏的连接器会降低电子校准件的性能，进而影响您的测量结果的准确性。下图显示了完好连接器与受损连接器的对比示例。