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使用NI PXIe、STS、VTS等软硬件系统完成测试方案有哪几种呢？

2019-07-17 17:56发布

站内问答 / 测试测量技术
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随着无线设备复杂性急剧增加，手机支持的频段数量也在不断增加。从最开始的2个GSM频段，到现在的4个GSM频段，3个CDMA频段，5个UMTS频段和10个LTE频段。未来，诸如5G New Radio等标准将继续增加无线设备的复杂性。使用NI PXIe、STS、VTS等NI的软硬件系统完成的测试方案有哪几种呢？
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8条回答
阿兵888824
2019-07-17 22:38
使用NI VST矢量信号收发仪测试插入损耗

对于射频开关进行插入损耗测试的时候，可以使用NI VST矢量信号收发仪进行测试。NI VST矢量信号收发仪将矢量信号发生器VSG和矢量信号接收器VSA两种仪器功能集合在仪器。

并且VST的作用不仅仅在插入损耗测试上面，对于开关芯片及其他类型射频前端芯片多种测试项也能良好地覆盖，而不需要采用其他仪器即可完成，因此极大提升了测试项目的覆盖率。

在对某通道（如RF1）进行插入损耗测试的时候，如图3 ，在芯片进入工作状态后将RF1导通，已知由VST输出功率，即芯片在Ant端口的输入功率，测得RF1通道输出的功率,因此即可以得出插入损耗功率值即：

图3：使用VST进行插入损耗测试

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