利用PXI高精度同步机制实现高速量产测试

在实验室验证测试中使用高带宽示波器可进行快速的波形查看及上升时间计算，但是这个方法在量产测试中即使能够满足测试需求，但是面对量产中成本和测试时间上的要求，价格不菲的高带宽的示波器在系统成本上是一个巨大的开销；同时DUT的射频输出在系统连接线设计上，除了要接入射频仪器外，还需要额外将输出接入到示波器上，这样将增加了系统的复杂度。因此，在量产测试中，我们会考虑其他设计方法。
进行开关时间量产测试时，我们使用带PPMU功能的NI Digital Pattern基于向量的数字仪器PXIe-6570，并配合NI VST矢量信号收发仪进行系统设计。PXIe-6570包含具有触发和Pattern排序的深度板载内存。通过基于向量的Pattern，它可将芯片编程到已知状态。而最重要的是，基于PXIe总线的测试平台设计了高精度、低延时的定是同步机制，这样的指标对于两个模块之间同步触发的问题得到了很好的解决。

基于PXI的高精度同步触发

NI为PXI和PXI Express机箱提供了定时和同步解决方案。 最新的PXI Express对PXI平台进行了改革，在保留向后兼容的同时，针对测量I/O设备，提供了比PXI-1更强大的同步功能。 具体体现在：

· PXI Express保留了原始的PXI规范中的10 MHz背板时钟，以及单端PXI触发总线和长度匹配的PXI星形触发信号。
· PXI Express还在背板上增加了100 MHz差分时钟和差分星形触发，提供增强的抗噪音能力和业界领先的同步精度（分别为250 ps和500 ps的模块间延迟差）。NI定时和同步模块充分利用PXI和PXI Express机箱中的高级定时和触发技术优势。

图9：基于PXI的定时同步机制在量产测试系统设计上，我们也充分利用了PXI平台触发总线的高准确度、低延时特性。如图10所示，基于向量的数字仪器PXIe-6570在给出控制命令的同时，产生一个事件触发脉冲，这个脉冲通过PXI总线传送到VST，触发VST开始采集射频信号。在系统中逐个检查射频信号采样值的幅度，比较可得到第一个幅度满足要求的采样点，并且由于射频信号采集的开始时刻就是开关切换的时刻，与满足要求采样点时间差乘以采样周期就可以得到切换时间 。

通过这样的方式将极大提升仪器的复用率，而不需要额外示波器进行测试，降低了测试成本，并且也减少了仪器间切换的时间，提升测试效率。

图10：基于向量的数字仪器及VST的开关时间测试