老板交代一个任务，需要做一个测试机，完成IC的基本测试。本人白板一个，看了一些书籍和一些电子资料，做出了如下构想。考虑到一个IC有很多测试项，所以决定使用状态机结构。如图，我把IC的各个测试项做成了一个枚举变量。通过移位寄存器来实现测试项目之间的跳转。但是，这样有一个弊端，当一个测试项目测试完毕之后，无论它是PASS还是FAIL，都需要调到下一个测试项目。那么当最后一项测试完成之后，怎么判断这个IC的整体测试结果呢，比如说第一项fail，但是最后一项PASS.附上截图，程序不完整，只是一个大概的想法和结构，帮忙分析一下，不胜感激。
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