本帖最后由 木剑无情 于 2016-10-17 21:49 编辑
如图，ABC是三相交流电，DC100V是对壳体的电压，我通过这个电路检测ABC对壳体的绝缘电阻，现在在A对壳体之间加了个测试用绝缘电阻R28，然后利用软件依次控制E4,5,6的光耦接通和断开(K1是一个继电器，和光耦同时控制通断），再通过后端采样端口进行采样。
之前我做实验，电路里面没接R24,25,26，在加上交流电后试验十几次，AB相光耦就损坏了，无法再控制接通，更换新的光耦试验仍然坏。后来我在三相电与光耦间串入R24,25,26再做试验，累计做了150次也没坏，我再将这三个电阻去掉，做了二十次左右，三个光耦又都坏了，对比很是费解。
所以我想请教一下光耦坏的原因，还有串入三个电阻为什么会有效果？
ps.我之前网上看到有人说MOC3061光耦的抗干扰能力较差，需要进行抗干扰设计，不知道具体是怎么回事。
如图，ABC是三相交流电，DC100V是对壳体的电压，我通过这个电路检测ABC对壳体的绝缘电阻，现在在A对壳体之间加了个测试用绝缘电阻R28，然后利用软件依次控制E4,5,6的光耦接通和断开(K1是一个继电器，和光耦同时控制通断），再通过后端采样端口进行采样。
之前我做实验，电路里面没接R24,25,26，在加上交流电后试验十几次，AB相光耦就损坏了，无法再控制接通，更换新的光耦试验仍然坏。后来我在三相电与光耦间串入R24,25,26再做试验，累计做了150次也没坏，我再将这三个电阻去掉，做了二十次左右，三个光耦又都坏了，对比很是费解。
所以我想请教一下光耦坏的原因，还有串入三个电阻为什么会有效果？
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这是我们用来测三相电分别对壳体的绝缘电阻的电路，在没有加交流电的时候就是简单的直流电分压和采样；加了交流电后在直流电上会有交流分量，我们采样端有滤波电路，所以测出来结果和不加交流电是一样的。只是想不通为什么这样用容易坏，怀疑过是耐压不够，将电压调低后还是坏。（以前光耦的位置是继电器，但是带来了其他问题，所以现在想换成光耦）
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