DSP

JTAG基础

2019-07-13 19:50发布

         IEEE 1149.1 标准规定了一个四线串行接口(第五条线是可选的),该接口称作测试访问端口 (TAP),用于访问复杂的集成电路 (IC),例如微处理器、DSPASIC CPLD 除了 TAP 之外,混合 IC 也包含移位寄存器和状态机,以执行边界扫描功能。 TDI(测试数据输入)引线上输入到芯片中的数据存储在指令寄存器中或一个数据寄存器中。 串行数据从 TDO(测试数据输出)引线上离开芯片。 边界扫描逻辑由 TCK(测试时钟)上的信号计时,而且 TMS(测试模式选择)信号驱动 TAP 控制器的状态。 TRST*(测试重置)是可选项,而且可作为硬件重置信号。 PCB 上可串行互连多个可兼容扫描功能的 IC,形成一个或多个边界扫描链,每一个链有其自己的 TAP 每一个扫描链提供电气访问,从串行 TAP 接口到作为链的一部分的每一个 IC 上的每一个引线。 在正常操作过程中,IC 执行其预定功能,就好像边界扫描电路不存在。 但是,当为了进行测试或在系统编程而激活设备的扫描逻辑时,数据可以传送到 IC 中,并且使用串行接口从 IC 中读取出来。 这样的数据可以用来激活设备核心,将信号从设备引线发送到 PCB 上,读出 PCB 的输入引线并读出设备输出。      连接方式如下图:         在IEEE 1149.1标准里面,寄存器被分为两大类:数据寄存器(DR-Data Register)和指令寄存器(IR-Instruction Register)。边界扫描链属于数据寄存器中很重要的一种。边界扫描链用来实现对芯片的输入输出的观察和控制。而指令寄存器用来实现对数据寄存器的控制,例如:在芯片提供的所有边界扫描链中,选择一条指定的边界扫描链作为当前的目标扫描链,并作为访问对象。下面,让我们从TAP(Test Access Port)开始。      TAP是一个通用的端口,通过TAP可以访问芯片提供的所有数据寄存器(DR)和指令寄存器(IR)。对整个TAP的控制是通过TAP Controller来完成的。TAP总共包括5个信号接口TCK、TMS、TDI、TDO和TRST :其中4个是输入信号接口和另外1个是输出信号接口。一般,我们见到的开发板上都有一个JTAG接口,该JTAG接口的主要信号接口就是这5个。下面,我先分别介绍这个5个接口信号及其作用。