相信与硬件打交道的朋友对JTAG接口一定不会陌生。JTAG（Joint Test Action Group,联合测试行动小组）是一种国际标准测试协议，用于系统仿真、调试及芯片内部测试。它通过访问芯片内部封装好的测试电路TAP（Test Access Port,测试访问端口）来实现。目前大多数的芯片都支持JTAG协议，这样通过JTAG的仿真测试可便于研发人员的开发调试。   目前JTAG接口有两种连接标准：14针接口及20针接口。接口定义如下所示。 14针接口定义： 引脚定义 引脚功能 1、13 VCC，连接电源输入 2、4、6、8、10、14 GND，连接电源地 3 NTRST系统复位信号 5 TDI测试数据串行输入 7 TMS测试模式选择 9 TCK测试时钟信号 11 TDO测试数据串行输出 12 未连接 20针接口定义： 引脚定义 引脚功能 1 目标板参考电压 2 VCC 电源输入 3 NTRST测试系统复位信号 4、6、8、10、12、14、16、18、20 GND 连接电源地 5 TDI测试数据串行输入 7 TMS测试模式选择 9 TCK测试时钟信号 11 RTCK测试时钟返回信号 13 TDO测试数据串行输出 15 NRESET目标系统复位信号 17、19 未连接 对于开发板上元器件的JTAG接口，较多采用MOLEX的8针连接器，其体积较小，便于集成电路设计且功能齐全，其接口一般如下所示： 引脚定义 引脚信号 1 +3V3 2 NTRST 3、6 3V3GND 4 TDO 5 TDI 7 TMS 8 TCK 对于连接器的转换，可通过将相应的引脚进行连线即可。 NTRST:此信号可对TAP控制器进行复位，但并非强制要求。通过TMS选择特定的时序亦可实现TAP控制器的复位操作。 TDO：此信号必不可少。TDO为数据输出接口，所有测试芯片内部特定寄存器的数据输出均是通过TDO接口由TCK驱动实现串行输出。 TDI：此信号必不可少。TDI为数据输入接口，所有需要输入测试芯片内部特定寄存器的数据均是通过TDI接口由TCK驱动实现串行输入。 TMS：此信号必不可少。TMS用来控制TAP控制器各个状态之间的转换，通过TMS控制信号可实现TAP控制器不同状态之间的转变。 TCK：此信号必不可少。TCK为TAP控制器提供时钟信号。TAP控制器的所有操作都是由TCK时钟信号驱动。 在14针及20针的接口定义中，之所以出现多个引脚地的定义，应该是为增强信号的抗干扰能力。   （部分资料来源于互联网，若有侵权请及时联系）