电池（3.0--4.2V）通过LDO将电压转换成3.3V给STM32供电，STM32通过电阻分压的方式进行ADC采集；LDO特性是3.4V--4.2V之间芯片稳定输出3.3v;当LDO供电电压降低到3.3V以下后LDO的输出和输入相同（For：输入3.1V输出3.1V）；伴随电池电量的降低芯片的供电电压下降，此时ADC采集的电压输入正确（万用表测量）；但是此时ADC采样数值在固定数值周围浮动1595--1663；ADC采集到数据不对了，这种问题能够通过软件解决吗？
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芯片供电电压改变，则ADC满量程所代表的真实电压值会改变，也就是说ADC采集值的单位刻度会变化，那么1.2V若固定，刻度改变，则ADC测量值就会变
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