本帖最后由 sunnydragon 于 2019-8-11 22:08 编辑
自年初发布了 EasyFlash 4.0 beta 版后 ,EasyFlash 迎来了全新的 NG (Next Generation) 模式。 新的模式相比以前有着众多的优势,比如
- 1、更小的资源占用,内存占用 几乎为 0 ;
- 2、ENV 的值类型支持 任意类型 、任意长度,相当于直接 memcpy 变量至 flash ;
- 3、ENV 操作效率比以前的模式高,充分利用剩余空闲区域,擦除次数及操作时间显著降低;
- 4、原生支持 磨损平衡、掉电保护功能 (V4.0 之前需要占用额外的 Flash 扇区);
- 5、ENV 支持 增量升级 ,固件升级后 ENV 也支持升级;
在 beta 版本发布的这段时间里,收到很多开发者使用反馈,解决了一些使用过程中的问题,包括:性能,可靠性等等
最大的改进是增加了类似 LRU (Least Recently Used) 的 Cache 机制,大幅提升了 ENV 查找,写入及 GC 时的效率。
经过这段时间的集中测试,现在终于可以发布 V4.0 正式版了。
未来随着 IoT 场景的多样化要求, EasyFlash 还会做更多改进与提升,目前已知的规划会有:
- 1、支持数据加密,IoT 时代的安全性是重中之重;
- 2、增加数据压缩,让同样大小的 Flash 可以存储更多的内容;
- 3、支持大数据存储模式,长度无限制,数据可在多个 Flash 扇区上顺序存储;
- 4、增加 ENV 迭代器,检索 ENV 更加方便;
- 5、……
请评论投票下你所期待的新功能吧,排名靠前的功能将会优先支持……
V4.0 正式版下载:
最新代码及在线文档详见:https://github.com/armink/EasyFlash
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一:我刚用4.0正式版本,STM32F10X那个DEMO测试,MDK编译,优化级别为3时候,ef_get_env就返回0,然后进入 assert_failed 优化级别为0则不会
二:FLASH整片擦除,也算是新FLASH吧
三:附件是正式版中的DEMO,我把型号改为STM32F103RBT6了,PAGESIZE=1024,设置为优化级3,则ef_get_env就返回0,然后进入 assert_failed 优化级别为0则不会
我现在用得的感受,V4.0-BEAT感觉比V4.0正式版好用.
说来也奇怪,升级为4.0正式版后,我自己的工程,则要优化为3级才正常,优化为0级的时候,永远不会初始化参数,每次下载都整片擦除的,没升级前和优化级别没关系
你的意思是,同样是最新的 正式版 V4.0
自带的那个 f1 demo 开了 优化不好使,不开好使
你的项目里,开了优化才好使,不开就不好使
是这个逻辑吗?
是的。我退回到4.0-BEAT,则优化级3和0都正常,不正常的时候,我跟了下程序,执行到ef_load_env()中,check_failed_count 不等于SECTOR_NUM ,所以初始化不了参数
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