使用芯片:STM32F103RCT
开发环境:MDK5.1.2
调试方法:JTAG+SWD
遇到问题:PB3端口作为输入,一直读取到的是低电平,不管外部输入是不是高电平,都一直读取到的是低电平。
问题原因:
因为在使用SWD调试的时候要取消trace跟踪调试,Pb3端口还是没法正常读取到数据。
查找资料发现,别人发贴说是以为默认使用的JTAG调试方式或者是SWD方式占用了PB3端口,所以
没办法使用。类似的问题在其他论坛出现过:
http://bbs.21ic.com/icview-262751-1-1.html。
最后发现解决办法就是:
在程序初始化的时候要加上这两句话来让PB3 PA15 PB3 能正常使用。
RCC_APB2PeriphClockCmd(RCC_APB2Periph_AFIO, ENABLE);
GPIO_PinRemapConfig(GPIO_Remap_SWJ_JTAGDisable, ENABLE);
DBGMCU->CR &= ~((uint32_t)1<<5);
AFIO->MAPR = (AFIO->MAPR & ~((uint32_t)0x7 << 24)) | (2 << 24); /* PA15 PB3 PB4 */
加上这两句话之后,PB3作为IO口输入数据就正常。
HAL库的话直接在写.Alternate = GPIO_AFXXXX
这个问题断续困扰我一个月了
感谢指正!
我一般使用的时候,这个引脚用作SWO了,调试的时候可以打印一些信息,非常好用
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