stm8s003f3自带EEPROM的使用寿命是多少?

2019-12-24 18:39发布

写了一段测试代码,想测试一下stm8s003f3自带的EEPROM的擦写次数;
  1. /******************************************************************************/
  2. /** 测试eeprom的读写次数
  3.   *
  4.   * @return
  5.   *
  6.   *//*
  7.   * History        :
  8.   * 1.Date         : 2017/8/23
  9.   *   Author       : Nat
  10.   *   Modification : Created function

  11. *******************************************************************************/
  12. void eeprom_task( void )
  13. {
  14.     static u8 temp = 0;


  15.     Write_Byte(Test_Num,EEPROM_WR_ADD);//往固定地址写数据
  16.     temp = Read_Byte(EEPROM_WR_ADD);//从指定位置读取数据

  17.     if(temp == Test_Num)//[color=Red]将读取的数据与写入的数据进行比较,如果一样Test_Count++ 用于统计成功写入的次数[/color]
  18.     {
  19.         Test_Count++;
  20.         Test_Num++;
  21.         _flg = 0;
  22.     }
  23.     else
  24.     {
  25.         if( _flg == 0)
  26.         {
  27.             Write_Buf(pTest_Count, 4, EEPROM_RS_ADD);
  28.             _flg = 1;
  29.         }
  30.     }



  31. }
复制代码
现在Test_Count 以及计数到8亿次,感觉有点不正常啊,是不是测试方法不对?
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12条回答
3DA502
1楼-- · 2019-12-24 19:30
本帖最后由 3DA502 于 2017-8-23 13:58 编辑

人家的测试方法和你不一样

好像是把所有的存储单元写0x00,再擦除为0xff,连续循环直到,批量样本中出现有1个bit错误,现在一般都是保证10k以上次循环

对于单个芯片,可能100k次也没有一个bit错误
aammoo
2楼-- · 2019-12-24 21:06
全写满0,校验,擦除,校验,这样循环测试
涵潇舒雅
3楼-- · 2019-12-25 01:21
 精彩回答 2  元偷偷看……
涵潇舒雅
4楼-- · 2019-12-25 04:57
aammoo 发表于 2017-8-23 14:00
全写满0,校验,擦除,校验,这样循环测试

好的,我试试~3Q
wx85105157
5楼-- · 2019-12-25 07:17
而且还要高温老化,数据要保证一段时间后再读取不出错。
li_thomas
6楼-- · 2019-12-25 09:32
EEPROM有标准的测试方法:write 0x5a to address n and write 0xa5 to address n+1; read back these data, increase the success time by 1 if the data is right; write 0xa5 to address n and write 0x5a to address n+1; read back these data, increase the success time by 1 if the data is right;。我记得没错的话,很多电表厂家都是这么测的

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