在我印象中F0系列是针对低端、低成本市场的，用在工控场合靠谱不？刚仔细看了下F1、F4、F7的RAM都没有奇偶校验，不知道是出于什么样的考虑，是不是意味着F0更可靠？还是因为F0不可靠，需要用这种方式来加强？
之前一个小项目上用飞思卡尔的KE系列，也没有RAM校验。

以下是STM32F0的参考手册中关于RAM的描述：
2.3 内置的 SRAM
STM32F051xx 内置 8K 字节的静态 SRAM. 它可以以字节 (8 位 )、 半字 (16 位 ) 或字 (32 位 )
进行访问。 该类存储器 CPU 及 DMA 都可用最快的系统时钟且不插入任何等待进行访问。
校验检测 Parity check
数据总线宽度为 36 位， 其中 32 位为数据， 4 位用于每字节的奇偶校验位。
以此来增强数据存储的鲁棒性， 来适应欧洲 B 类及 SIL 规范的数据安全要求。
奇偶校验位是计算和存储时写扩 SRAM 的。 当读这些数据时， MCU 会自动校验数据。 如果
一位失败， 则会产生 NMI 中断。 当 SYSCFG_CFGR2 中的 SRAM_PARITY_LOCK 控制位和
SRAM_PEF 都有效时， 其还可链接到 TIM1 的 BRK_IN 的输入。