2019-03-25 13:48发布
maychang 发表于 2018-4-11 19:31 据经验，是BC结损坏为多。
xmxxwyh 发表于 2018-4-11 19:41 我想问下，为什么好多文献通过仿真的出来，在电磁脉冲下 B-E结短路为主要的失效模式，BE结更容易损伤；但 ...
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我想问下，为什么好多文献通过仿真的出来，在电磁脉冲下 B-E结短路为主要的失效模式，BE结更容易损伤；但是有的文献说BC结损伤所需的能量比BE结的小很多，说这就有所矛盾了。
“好多文献”和“有的文献”矛盾，哪个为真，我可不知道。
在电磁脉冲下 B-E结短路为主要的失效模式，，，这个必须结合电路形式进行分析
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