FSL_TICS_ZP 发表于 2015-3-11 11:02
效果是这样的，我以前也是用K60调试外部flash芯片也有这个现象，
这一个读取的数值是无效的，当时是这么 ...

就这点，让人生不如死，欲仙欲死；每当你以为高潮已过之时，它悄然来到。
最后尝试一次，用网上的驱动库试试看。
不行就换mcu方案。

lcptw 发表于 2015-3-12 17:23
就这点，让人生不如死，欲仙欲死；每当你以为高潮已过之时，它悄然来到。
最后尝试一次，用网上的驱动库 ...

建议楼主可以通过软件方式处理，丢掉第一个无效数据就可以啊。

呵呵，PE生成的中断方式代码。

每次丢掉首byte，在轮询测试情况下，偶尔会失常一把，第一个字符又正常了，然后中断就死在等最后一个字符那里了。

现在改用寄存器操作polling等待的方式，GPIO操作片选NCS（原因？自行参考《【经验分享】KL系列spi主从通信之查询中断例程》，内有详细说明，本坛资源）。

现在算是清楚了，为啥大家很不愿待见PE自动生成的代码，虽然有便于移植，上手快速等诸多优点。
最重要的是：
1、代码复杂，冗余量大，各种宏定义、指针跳转，用寄存器操作就不两条指令的，PE会生成一箩筐。
2、出了问题你都不知道在哪里找原因。

以前还推荐用PE，现在及可预见的将来是不会推荐了，各种坑。