maychang 发表于 2014-12-31 11:33
学习不仅仅是记住这样一种方法，更重要的是了解这种方法是怎么来的，是怎么一回事。
任何测量，不可避免地要对待测状态产生影响，干扰待测电路的工作。我们只能尽量减少这种影响，完全没有影响是不可能的。
楼主的要求，是判断晶体振荡器是否起振，并不要求测量振幅，也不要求观察波形。
示波器探头，其输入阻抗分成两部分。一部分是电阻，通常1兆欧到10兆欧，另一部分是电容，通常十几到二十几pF。当探头接触晶体一端时，等于在晶体一端与地线之间并联了一支电阻和一支电容。在晶体振荡频率下，电阻的影响并不大，但电容影响相当大。通常的晶体振荡电路，单片机等芯片接晶体的两脚对地线各一支电容，其容量不过20pF左右。探头接触晶体一端，等于该电容几乎加倍。这会改变晶体振荡器的反馈系数，可能会使振荡器停振。
探头夹上一支电阻再接触晶体一端，电阻已经剪短引线，电阻的短引线对地分布电容小于1pF，这比探头的输入电容要小得多，故而对振荡电路的影响远小于探头直接接触到晶体，换言之，对电路工作的干扰比较小(几乎小一个数量级)，不容易产生因测量而停振的现像。
夹上一支电阻，等于串联分压，当然会影响示波器上波形的幅度。不过我们只要判断是否起振，不要求测量幅度，所以没关系。串联这样一支电阻也会影响示波器上波形形状，我们也不要求看到准确的波形，所以也没关系。

恩恩  这里的探头我可以理解为负载吗，然后负载的接入影响了原振荡电路的品质因数