“V BAT引脚内部通过2连接到桥式分压器。当VBATEN置1时，该桥接器自动使能，将V BAT / 2连接到ADC1_IN17输入通道。因此，转换后的数字值是V BAT的一半电压。” 看起来IN17上的内部ST问题在gnd附近感应。

电源是连接到电池的分压器，但其阻抗无关紧要，因为VIN电压是VBAT引脚的电压，因此只有内部电路才有意义。采样时间已经处于最高值，测量值不依赖于连接到VBAT通道之前转换的通道的电压，因此我认为采样电容的充电时间不是问题。但要确保我会尝试降低ADC时钟并按照您的建议进行多次VBAT测量。

无论错误原因是什么，如果它只影响Vbat的准确性，那么低于1V的任何东西都无法进行

看起来它可能与噪音有关。假设它是你可以尝试：

在ADC上设置更长的采样时间，并查看低端值是否有所改善。如果这有所改善，那么甚至可能需要4-5个读数并对它们取平均值（可能忽略第一个）。
使用示波器测量ADC的输入，并查看是否确实存在大约0.5v的本底噪声（看起来很奇怪，但取决于电路上的其他内容）
可能会检查ADC是否有单独的电源引脚。VREF或AVCC有时被称为但取决于芯片。（我知道一些STM32芯片有这个）并附上帽和铁氧体，使参考电压更清洁。
最坏的情况尝试使用外部ADC引脚到您的电池，看看是否更好。如果是那么内部VBAT ADC电路似乎是独一无二的，这可能是STM问题，而不是你自己的问题。（查看芯片的勘误文档。他们通常会在那里发布已知问题）

采样时间已经处于最高值，测得的噪声远低于0.5V。其他ADC引脚工作正常，但遗憾的是所有这些都用于其他东西，所以我必须使用VBAT引脚。我认为VBAT引脚不是通过分压器直接连接到ADC（就像在数据表中描述的那样），而是通过一个在1V以下工作的电路。勘误表没有提到这一点但是在联系ST时我得到了答案“你正在使用超出其规格的VBAT引脚（低于最小电压）”。所以我想我无法让它发挥作用。