使用芯片：STM32F103RCT
开发环境：MDK5.1.2
调试方法：JTAG+SWD
遇到问题：PB3端口作为输入，一直读取到的是低电平，不管外部输入是不是高电平，都一直读取到的是低电平。
问题原因：
因为在使用ＳＷＤ调试的时候要取消trace跟踪调试，Pb3端口还是没法正常读取到数据。
查找资料发现，别人发贴说是以为默认使用的JTAG调试方式或者是SWD方式占用了ＰＢ３端口，所以
没办法使用。类似的问题在其他论坛出现过
最后发现解决办法就是:
在程序初始化的时候要加上这两句话来让PB3 PA15 PB3 能正常使用。



RCC_APB2PeriphClockCmd(RCC_APB2Periph_AFIO, ENABLE);
GPIO_PinRemapConfig(GPIO_Remap_SWJ_JTAGDisable, ENABLE);              
DBGMCU->CR  &= ~((uint32_t)1<<5);   
AFIO->MAPR = (AFIO->MAPR & ~((uint32_t)0x7 << 24)) | (2 << 24);     /*  PA15 PB3 PB4 */



加上这两句话之后，PB3作为IO口输入数据就正常。