本帖最后由 wyy0313 于 2014-12-12 12:54 编辑

网上查了一下，下面内容来自网络。
ADC的参考电压都是通过Vref+提供的。100脚以上的型号，Vref+引到了片外，引脚名称为Vref+；64脚和小于64脚的型号，Vref+在芯片内部与VCC信号线相连，没有引到片外，这样AD的参考电压就是VCC上的电压。

每个STM32芯片都有一个内部的参照电压，相当于一个标准电压测量点，在芯片内部连接到ADC1的通道17。不少人把这个参照电压与ADC的参考电压混淆。

根据数据手册中的数据，这个参照电压的典型值是1.20V，最小值是1.16V，最大值是1.24V。这个电压基本不随外部供电电压的变化而变化。
在ADC的外部参考电压波动，或因为Vref+在芯片内部与VCC相连而VCC变化的情况下，如果对于ADC测量的准确性要求不高时，可以使用这个内部参照电压得到ADC测量的电压值。

具体方法是在测量某个通道的电压值之前，先读出参照电压的ADC测量数值，记为ADrefint；再读出要测量通道的ADC转换数值，记为ADchx；则要测量的电压为：

Vchx = Vrefint * (ADchx/ADrefint)

其中Vrefint为参照电压=1.20V。

上述方法在使用内置温度传感器对因为温度变化，对系统参数进行补偿时就十分有效。
STM32内置参照电压的使用

学习力，以前没注意过这个问题。mark

       方法就是楼上说的：在测量某个通道的电压值之前，先读出参照电压的ADC测量数值，记为ADrefint；再读出要测量通道的ADC转换数值，记为ADchx；则要测量的电压为：
Vchx = Vrefint * (ADchx/ADrefint)
其中Vrefint为参照电压=1.40V。
    实际测量中，不可能测通道一次，再测基准电压一次，这样会造成测得数据非常不稳。需要先测量出一组测量通道的AD值，进行软件滤波处理，然后再测得基准电压一组AD值，进行软件滤波处理，最后换算出测量结果。

一、每个STM32芯片都有一个内部的参照电压，相当于一个标准电压测量点，在芯片内部连接到ADC1的通道17。根据数据手册中的数据，这个参照电压的典型值是1.20V，最小值是1.16V，最大值是1.24V。这个电压基本不随外部供电电压的变化而变化。
     不少人把这个参照电压与ADC的参考电压混淆。ADC的参考电压都是通过Vref+提供的。100脚以上的型号，Vref+引到了片外，引脚名称为Vref+；64脚和小于64脚的型号，Vref+在芯片内部与VDDA信号线相连，没有引到片外，这样AD的参考电压就是VDDA上的电压。
     如果对于ADC测量的准确性要求不高时，可以使用这个内部参照电压得到ADC测量的电压值。具体方法是在测量某个通道的电压值之前，先读出参照电压的ADC测量数值，记为ADrefint；再读出要测量通道的ADC转换数值，记为ADchx；则要测量的电压为：
Vchx = Vrefint * (ADchx/ADrefint)。其中Vrefint为参照电压=1.20V。
    二、选用外部参考基准电压，其原理同第一种是一样一样的，只不过将第一种中的参照电压换成了自己设定的基准源的电压，公式同上。