假设我有一对12位ADC，我可以想象它们可以级联以获得<= 24位输出。
我可以想到只使用一个用于正范围而另一个用于负范围，尽管在交叉区域可能会有一些失真。（假设我们可以忽略几个错误位，或者可能放置第三个ADC来测量0伏左右的值）。
我一直在考虑的另一个选择是使用单个高速ADC并切换参考电压以在较低速度下获得更高的分辨率。还应该有一种方法可以使用一个固定参考ADC获得实值结果，然后切换二次转换器的aref，以获得更精确的值。
欢迎提出任何意见和建议。
我假设一个四通道8位（或双12位）
芯片比一个24位芯片便宜。
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它的工作原理是为信号添加噪声。尽管噪声会降低分辨率，但必须使数据在几位上分离。（我不是一个信号处理人员 - 这就是我理解它的方式。）你的噪音可能只有1或2位，但它需要在那里。如果你采用一个12位样本 - 你有12位。如果您再取4个样本，将它们加在一起并除以2，即可获得13位样本。（由于Nyquist，每个附加位需要4个样本。）
一种简单的方法是在参考电压上添加噪声。我用它来将dsPIC33F中的12位ADC提升到16位以获得更高的分辨率。之前，我设置了一个高频率的异步定时器，并使用DMA将一系列PRNG数字排队到输出捕获中，从而提供相对干净的噪声源。噪声输出将参考电压偏置约0.1％（1k-1Meg分压器）。噪声是双向的，下沉和源出。我使用dsPIC33F的DMA对样本进行排队，因此可以通过很少的CPU干预来完成。当然，最大采样率下降到正常速率的1/32左右，但这对我的应用来说不是问题。
由于噪声并非总是均匀分布，因此我将校准每个装运单元的输入，尽管差异可能只有1或2 LSB。
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