根据电缆的性能，如频率范围、长度、是否差分，设置时域门控，可以按照线缆连接的位置，门控选通，获得实际物理线缆的各项参数结果。门控选通测试结果对应被测线缆，不含接头和夹具以及其它测试线缆。
必要性和难点
由于被测线缆不是50Ω标准同轴线缆，可能是高速数据线、差分线等。
用网络分析仪测试时，测试端口是标准50Ω同轴线缆，因此在连接被测电缆时要求使用转接头或夹具，而这些接头和夹具的S参数未知，需要去除其影响，才能获得被测线缆的实际参数。
目前常用的方法是去嵌入或夹具移除法，这些方法要求精确设计的夹具和微带校准件，校准后移除夹具的S参数。其难点在于夹具及其校准件的制作，通常校准件的参数是理论设计值，跟实际值有一定差距，并且校准和得到的夹具自身S参数，可能造成实测数据曲线的波动，甚至错误。
本方法采用通用校准方法，通过时域选通功能，定位到被测电缆，实测数据自动排除接头和夹具的影响。

测试方法
DUT为线缆，可以是10Ω~1kΩ内任意阻抗；
被测电缆焊接50Ω同轴接头，如SMA、N；
如果DUT为差分电缆，每个电缆对焊接两对50Ω同轴接头，每对接头外壳导体互联，并连接DUT屏蔽层。
测试之前校准。
测试窗口分两个Channel；
Ch1线缆插入损耗: S21测试，采用带通冲击响应，在第一峰值处门控选通，至少包含一对时域副瓣；
Ch2线缆阻抗: Z11测试，采用低通阶跃响应，门控选通，包含DUT长度50%~80%。

测试验证
DUT: 75Ω同轴，频率范围3GHz，长度914mm
S21插损初始测试结果：
S21时域门控设置：
S21插损，门控选通修正测试结果：
Z11阻抗测试结果：