本帖最后由 木剑无情 于 2016-10-17 21:49 编辑
如图,ABC是三相交流电,DC100V是对壳体的电压,我通过这个
电路检测ABC对壳体的绝缘电阻,现在在A对壳体之间加了个测试用绝缘电阻R28,然后利用软件依次控制E4,5,6的光耦接通和断开(K1是一个继电器,和光耦同时控制通断),再通过后端采样端口进行采样。
之前我做实验,电路里面没接R24,25,26,在加上交流电后试验十几次,AB相光耦就损坏了,无法再控制接通,更换新的光耦试验仍然坏。后来我在三相电与光耦间串入R24,25,26再做试验,累计做了150次也没坏,我再将这三个电阻去掉,做了二十次左右,三个光耦又都坏了,对比很是费解。
所以我想请教一下光耦坏的原因,还有串入三个电阻为什么会有效果?
ps.我之前网上看到有人说MOC3061光耦的抗干扰能力较差,需要进行抗干扰设计,不知道具体是怎么回事。
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不知贵公司在哪呀 搞什么设备的
嗯,已经找厂家问了,还没分析出结果
这个你们对电路的各种保护搞的如何 请问楼主知道 相敏保护吗 这个有无线路图分享 谢谢
因为我们公司主要就是做电源和配电的,所以对电路的各种保护技术还是很成熟的,不过相敏保护方面研究的还比较少@王栋春
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